Dispositivos para detectar radiación cósmica
Sebastián Carbonetto es ingeniero electrónico y doctor de la Universidad de Buenos Aires (UBA), Área Ingeniería. Es investigador adjunto en el CONICET y docente en la carrera de grado de Ingeniería Electrónica en la FIUBA y en la Maestría en Microelectrónica. Inició sus actividades científicas en 2008, mientras era estudiante de grado, cuando ingresó al Laboratorio de Física de Dispositivos-Microelectrónica (LFDM) luego de postularse a la Beca Estímulo UBACyT y, desde entonces, forma parte de este laboratorio.
Su principal línea de investigación es el estudio del efecto de la radiación ionizante sobre dispositivos de tecnología MOS (por sus siglas Metal-Oxide-Semiconductor). Estos son elementos fundamentales de cualquier circuito electrónico, incluidos aquellos de la industria espacial, como los satélites. “El espacio es un ambiente donde existe radiación ionizante y, por lo tanto, cualquier circuito electrónico que forme parte de un sistema aeroespacial será afectado por la radiación presente en ese ambiente y, se puede dar la degradación de estos sistemas electrónicos impactando en su funcionamiento. Por lo tanto, saber y entender cómo los dispositivos son afectados por la radiación tiene una doble faceta: por un lado, poder diseñar un circuito y predecir cómo será afectado para asegurar su correcto funcionamiento durante las misiones espaciales y, por el otro, el desarrollo de sensores y su sistemas de medición”, afirma Carbonetto y agrega: “En el laboratorio nos enfocamos principalmente en esta segunda faceta: caracterizamos los efectos de la radiación sobre los transistores MOS con el fin de aprovecharlos para su uso como sensores”.
La labor más habitual en el LFDM implica la medición de distintos lotes de transistores MOS y el seguimiento del cambio de sus parámetros característicos cuando son irradiados con radiación ionizante. En relación a esto, el investigador aclara que “este trabajo experimental es de una complejidad significativa, ya que implica una caracterización eléctrica de los dispositivos, el acceso a fuentes de radiación para realizar las exposiciones y, como los efectos en los dispositivos son dinámicos y dependientes de diferentes parámetros ambientales, cada uno requiere un seguimiento de sus características y parámetros luego de la irradiación, considerando, por ejemplo, distintas condiciones de temperatura del ambiente, así como las tensiones y corrientes aplicadas a cada transistor individual”.
Acceder a la entrevista en la 10ma. edición de la revista .ing.