LFDM - Publicaciones

Artículos en revistas:
. Cassani, M. V.; Sambuco Salomone, L.; Carbonetto, S.; Faigón, A.; Redin, E.; Garcia-Inza, M. (2021). Experimental characterization and numerical modeling of total ionizing dose effects on field oxide MOS dosimeters. Radiation Physics and Chemistry, volumen (182), 109338 (+)
. Sambuco Salomone, L.; Garcia-Inza, M. A.; Carbonetto, S.; Faigón, A. (2021). Numerical modeling of radiation-induced charge loss in CMOS floating gate cells. Elektron, volumen (5), número (2), 100-104 (+)
. Sambuco Salomone, L.; Garcia-Inza, M.; Carbonetto, S.; Lipovetzky, J.; Redin, E.; Faigón, A. (2022). Numerical modeling of radiation-induced charge neutralization in MOS devices. Radiation Measurements, volumen (153), 106745 (+)
. Sambuco Salomone, L.; Garcia-Inza, M.; Carbonetto, S.; Lipovetzky, J.; Redin, E.; Faigón, A. (2022). Modeling switched bias irradiations on floating gate devices. Application to dosimetry. IEEE Transactions on Nuclear Science, volumen (69), número (6), 1229-1235 (+)
. Garcia Cozzi, R.; Carbonetto, S.; Redin, G.; Garcia-Inza, M.; Sambuco Salomone, L.; Faigón, A. (2022). Influence of interface traps on MOSFET thermal coefficients and its effects on the ZTC current. Microelectronics Reliability, volumen (137), 114752 (+)

Presentaciones en congresos
. Carbonetto, S.; Genovese, L.; Sambuco Salomone, L.; Garcia-Inza, M.; Redin, E. G.; Faigón, A. (2021). Total ionizing dose effects on floating gate structures. Preliminary results. 22nd IEEE Latin-American Test Symposium (LATS), virtual symposium, 27 al 29 de octubre, 2021.
. Gomes, E.; Sambuco Salomone, L.; Faigón, A.; García Cozzi, R. (2022). Modelización de efectos de radiación en estructuras MOS. Estados de interfaz. 107° Reunión Nacional de la Asociación de Física Argentina, Bariloche, 27 al 30 de septiembre, 2022.
. Cassani, M. V.; Sambuco Salomone, L.; Carbonetto, S.; Redin, E.; Faigón, A.; Garcia-Inza, M. (2023). A physics-based numerical modeling of total ionizing dose effects in CMOS integrated circuits. Argentina Conference on Electronics, Córdoba, 6 al 10 de marzo, 2023.